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表一:零值绝缘子测试(66kV及以上)
( 试验设备:ZC-JD10绝缘零值测试仪 )
周期 |
要求 |
说明 |
1~5年 |
在运行电压下检测 |
1)可根据绝缘子的劣化率调整检测周期 |
表二:绝缘电阻
( 试验设备:ZC2010系列指针式绝缘电阻测试仪)
周期 |
要求 |
说明 |
1)悬式绝缘子1~5年 |
1)针式支柱绝缘子的每 |
1)采用2500V及以上兆欧表 |
表三:交流耐压试验
( 试验设备:ZCYD系列工频耐压试验装置 )
周期 |
要求 |
说明 |
1) 单元件支柱绝缘子1~5年 |
1)支柱绝缘子的交流耐压试验电压值见规程规定 |
1)35kV针式支柱绝缘子可根据具体情况按左栏要求1)或2)进行 |
表四:绝缘子表面污秽物的等值盐密
( 试验设备:ZC-JD55智能电导盐密测试仪 )
周期 |
要求 |
说明 |
1年 |
参照规程规定污秽等级与对应附盐密度 |
应分别为户外代表当地污染程度的至少一串悬垂绝缘子和一根棒式支柱取样,测量在当地积污的时期进行 |